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35RDC超聲波測厚儀【泛美35RDC】

 

35RDC超聲波測厚儀【泛美35RDC】
Panametrics 35系列的特性

• 所有型號的標準配置均包含聲速和減縮率測量。
• 可測厚度范圍寬：0.08 mm～635.0 mm(0.0030 in.～25.0 in.)，取決于儀器和材料。
• 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
• 自動調(diào)用功能可調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置。
• 手持式，僅重0.24公斤(8.5盎司)。
• 小/模式
• 高-低報警
• 英制和公制顯示(英寸或毫米)
• 多種語言用戶界面
• 長效電池

Panametrics 35型和35DL型

在大多數(shù)應(yīng)用中都可應(yīng)用35型和35DL型
35型和35DL型測厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。

應(yīng)用
• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼卷材及***加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35HP型和35DL-HP型

HP測厚儀具有極低的超聲頻率帶寬和特殊的脈沖發(fā)生器-接收器。這種設(shè)計的主要目的是在測量較厚的、聲速衰減明顯或聲速散播強的材料時優(yōu)化超聲波的穿透性。通常情況下，使用大多數(shù)其它超聲測厚儀無法對這些材料進行測量。
應(yīng)用
• 大多數(shù)較厚的或具有高聲速衰減性的材料
• 厚金屬鑄件
• 厚橡膠輪胎、履帶
• 玻璃纖維船體、儲罐
• 復合材料板
• 分辨率為0.01毫米或0.001英寸
 
 

35HP型測厚儀是測量玻璃纖維和復合材料部件的理想工具，其測量的對象包括對厚度控制有嚴格要求的航空航天器部件、船體及儲罐。

 
 
為使用HP測厚儀？
三十多年來，我們開發(fā)了專用于測量高聲速衰減材料及厚材料的HP(高穿透)系列超聲測厚儀。該系列測厚儀不僅可使用頻率低到0.5 MHz的探頭，而且與其配套使用的電子設(shè)備(脈沖發(fā)生器-接收器)還可被極大程度地優(yōu)化設(shè)置，以在如此低的頻率下處理信號。Panametrics測厚儀因在測量厚橡膠、玻璃纖維、復合材料及其它堅韌材料時所表現(xiàn)的性能，而贏得了良好的口碑。

Panametrics 35系列的其它特性

 
 

利用減縮率，可測量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。

 
 

減縮率測量
所有儀器型號的標準配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預設(shè)厚度之間的差值變化?？s減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應(yīng)用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進行測量。

 
 
 

可直接顯示聲速數(shù)值的聲速測量模式

 
 

 
材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應(yīng)用中，這個標準功能非常有用。典型應(yīng)用包括監(jiān)測金屬鑄件的球化程度，以及監(jiān)測復合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數(shù)字卡尺，用于自動傳輸測量厚度值。
自動調(diào)用功能可簡化測量操作
自動調(diào)用功能可使厚度測量簡化。在選擇了任何一種所存的探頭時，35型儀器都可調(diào)用相關(guān)內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。
存儲的標準設(shè)置標準設(shè)置包括大多數(shù)常用的探頭。
存儲的自定義設(shè)置在標準設(shè)置不能滿足特殊的應(yīng)用需求時，這些測厚儀可以創(chuàng)建、存儲和調(diào)用多達20個自定義設(shè)置(35型和35HP型可調(diào)用10個自定義設(shè)置)。
 
 
 

在這種基本應(yīng)用中不可使用測微計。然而，可以使用配有M208探頭的35型儀器，在不損壞玻璃的情況下，進行校準精度達0.001毫米(0.0001英寸)的厚度測量。

 
 

 
 
 

超薄鋼板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。

 
 

為使用超聲技術(shù)？

利用超聲波得到的測量值準確、可靠，并具有可重復性。在材料的另一側(cè)很難接觸到且不能使用測微計及其它測量儀進行測量時，使用超聲技術(shù)，在無需切開或損壞被測材料的情況下，僅從材料的一側(cè)發(fā)射聲波，即刻就可得到數(shù)字測量讀數(shù)。